ИССЛЕДОВАНИЕ ТОНКИХ ПЛЕНОК Cu2ZnSnSe4 МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ

Станчик А. В., Барайшук С. М., Башкиров С. А., Гременок В. Ф., Тиванов М. С., Дергачева М. Д., Уразов К. А.
2016

Методом атомно-силовой микроскопии исследовано влияние типа подложки на структуру и шероховатость поверхности пленок Cu2ZnSnSe4, полученных методом селенизации металлических прекурсоров Cu-Zn-Sn на подложках из стекла с подслоем молибдена и молибденовой фольги (Мо/стекло, Мо-фольга). Обнаружено, что пленки Cu2ZnSnSe4 на подложках Мо/стекло и Мо-фольга имеют близкие значения шероховатости и зернистую структуру. Пленки Cu2ZnSnSe4 имеют более высокие значения шероховатости и максимальной высоты неровности профиля, чем металлические прекурсоры Cu-Zn-Sn. Увеличение шероховатости при формировании пленок Cu2ZnSnSe4 из прекурсоров происходит за счет роста зерен в процессе отжига и селенизации.

Станчик А. В., Барайшук С. М., Башкиров С. А., Гременок В. Ф., Тиванов М. С., Дергачева М. Д., Уразов К. А. ИССЛЕДОВАНИЕ ТОНКИХ ПЛЕНОК Cu2ZnSnSe4 МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ. Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук. 2016;(4):67-75.
Цитирование

Список литературы

Похожие публикации

Источник