RT - article
SR - Electronic
T1 - ИССЛЕДОВАНИЕ ТОНКИХ ПЛЕНОК Cu2ZnSnSe4 МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
JF - Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-математических наук
SP - 2017-01-20
A1 - Станчик А. В., 
A1 - Барайшук С. М., 
A1 - Башкиров С. А., 
A1 - Гременок В. Ф., 
A1 - Тиванов М. С., 
A1 - Дергачева М. Д., 
A1 - Уразов К. А., 
YR - 2016
UL - https://www.academjournals.by/publication/13062
AB - Методом атомно-силовой микроскопии исследовано влияние типа подложки на структуру и шероховатость поверхности пленок Cu2ZnSnSe4, полученных методом селенизации металлических прекурсоров Cu-Zn-Sn на подложках из стекла с подслоем молибдена и молибденовой фольги (Мо/стекло, Мо-фольга). Обнаружено, что пленки Cu2ZnSnSe4 на подложках Мо/стекло и Мо-фольга имеют близкие значения шероховатости и зернистую структуру. Пленки Cu2ZnSnSe4 имеют более высокие значения шероховатости и максимальной высоты неровности профиля, чем металлические прекурсоры Cu-Zn-Sn. Увеличение шероховатости при формировании пленок Cu2ZnSnSe4 из прекурсоров происходит за счет роста зерен в процессе отжига и селенизации.