Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al<sup>4</sup>Sm

Акашев Л. А.; Попов Н. А.; Махнев А. А.; Воронцова Е. С.; Шевченко В. Г.

Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al⁴Sm

Акашев Л. А., Попов Н. А., Махнев А. А., Воронцова Е. С., Шевченко В. Г.

2023

https://doi.org/10.47612/0514-7506-2023-90-1-35-42

Исследованы оптические свойства и электронные характеристики рентгеноаморфной и поликристаллической пленок сплава Al4Sm, полученных методом вакуумного термического испарения. Оптические постоянные измерены эллипсометрическим методом Битти в диапазоне 0.248—7.002 мкм. Из спектральных зависимостей оптических постоянных рассчитаны дисперсионные зависимости световой проводимости σ, отражательной способности R, мнимой и действительной частей диэлектрической проницаемости ε1 и ε2, функции характеристических потерь энергии электронов Im(ε)–1. Показано влияние кристаллической структуры сплавов на особенности их оптических спектров. На основе результатов измерений в инфракрасной области спектра по модели двухполосной проводимости рассчитаны электронные характеристики указанных сплавов.

Акашев Л. А., Попов Н. А., Махнев А. А., Воронцова Е. С., Шевченко В. Г. Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al⁴Sm. Журнал прикладной спектроскопии. 2023;90(1):35-42. https://doi.org/10.47612/0514-7506-2023-90-1-35-42

Цитирование

Список литературы

1. Y. He, G.M. Dougherty, G. J. Shiflet, S. J. Poon. Acta Metall, Mater., 41, N 2 (1993) 337—343, https://doi.org/10.1016/0956-7151(93)90064-Y

2. V. Jambur, C. Tangpatjaroen, J. Xi, J. Tarnsangpradit, M. Gao, H. Sheng, J. H. Perepezko, I. Szlufarska. J. Alloys Compd., 854 (2021) 157266, https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2020.157266

3. A. Inoue, T. Masumoto. J. Alloys Compd., 207-208 (1994) 340—348, https://doi.org/10.1016/0925-8388(94)90237-2

4. C. A. Schuh, T. C. Hufnagel, U. Ramamurty. Acta Mater., 55 (2007) 4067—4109, https://doi.org/10.1016/j.actamat.2007.01.052

5. J. M. Freitag, R. G. Koknaev, R. SabetSharghi, M. Koknaeva, Z. Altounian. J. Appl. Phys., 79 (1996) 3967—3970, http://dx.doi.org/10.1063/1.361824

6. A. L. Greer, K. L. Rutherford, I. M. Hutchings. Int. Mater. Rev., 47, N 2 (2002) 87—112, https://doi.org/10.1179/095066001225001067

7. Y. G. Wang, Y. J. Li, S. P. Pan, B. D. Fu, J. Y. Qin, W. M. Wang. Int. J. Electrochem. Sci., 11 (2016) 3512—3531, doi: 10.20964/110429

8. A. Inoue. Progr. Mater. Sci., 43 (1998) 365—520, https://doi.org/10.1016/S0079-6425(98)00005-X

9. F. Meng, Y. Sun, F. Zhang, B. Da, C. Wang, M. J. Kramer, K. Ho, D. Sun. Phys. Rev. Mater., 5 (2021) 0434021—0434028, doi: 10.1103/PhysRevMaterials.5.043402

10. P. Rizzi, M. Baricco, L. Battezzati, P. Schumacher, A. L. Greer. Mater. Sci. Forum, 195 (1995) 111—116, https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.195.111

11. Y. E. Kalay, L. S. Chumbley, I. E. Anderson. J. Non-Crystal. Solids, 354 (2008) 3040—3048, https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2007.12.006

12. J. Q. Guo, K. Ohtera, K. Kita, J. Nagahora, N. S. Kazama. Mater. Lett., 24 (1995) 133—138, https://doi.org/10.1016/0167-577X(95)00066-6

13. F. Q. Meng, S. H. Zhou, R. T. Ott, M. J. Kramer, R. E. Napolitano. Material, 9 (2020) 100595, https://doi.org/10.1016/j.mtla.2020.100595

14. N. Wang, Y. E. Kalay, R. Trivedi. Acta Mater., 59 (2011) 6604—6619, https://doi.org/10.1016/j.actamat.2011.07.015

15. Z. Ye, F. Zhang, Y. Sun, M. I. Mendelev, R. T. Ott, E. Park, M. F. Besser, M. J. Kramer, Z. Ding, C.-Z. Wang, K.-M. Ho. Appl. Phys. Lett., 106 (2015) 1019031(1—4), https://doi.org/10.1063/1.4914399

16. S. H. Zhou, F. Q. Meng, M. J. Kramer, R. T. Ott, F. Zhang, Z. Ye, S. Jain, R. E. Napolitano. Mater. Today Commun., 21 (2019) 100673, https://doi.org/10.1016/j.mtcomm.2019.100673

17. L. Zhao, G. B. Bokas, J. H. Perepezko, I. Szlufarska. Acta Mater., 142 (2018) 1—7, https://doi.org/10.1007/s10853-018-2393-2

18. M. Pont, T. Puig, K. V. Rao, A. Inoue. J. Appl. Phys., 71 (1992) 4991, https://doi.org/10.1063/1.350598

19. L. Battezzati, M. Baricco. Mater. Sci. Eng. A, 179/A-180 (1994) 600—604, https://doi.org/10.1016/0921-5093(94)90275-5

20. А. И. Киселев, Л. А. Акашев, Н. А. Попов. Физикохимия поверхности и защита материалов, 58, № 2 (2022) 189—198 [A. I. Kiselev, L. A. Akashev, N. A. Popov. Protection of Metals and Phys. Chem. Surfaces, 58, N 2 (2022) 308—317], https://doi.org/10.1134/S2070205122020083, https://sciencejournals.ru/view-article/?j=zamet&y=2022&v=58&n=2&a=ZaMet2202008Kiselev

21. А. В. Ржанов. Основы эллипсометрии, Новосибирск, Наука (1979) 61—66

22. L. A. Akashev, V. I. Kononenko, V. E. Sidorov, P. Svec, D. Janickovic. J. Phys.: Conf. Ser., 98, 062012 (2008) 1—4, https://iopscience.iop.org/article/10.1088/1742-6596/98/6/062012

23. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Журн. прикл. спектр., 85, № 4 (2018) 570—575 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. J. Appl. Spectr., 85, N 4 (2018) 624—629], https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/282, https://doi.org/10.1007/s10812-018-0696-3

24. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Журн. прикл. спектр., 87, № 1 (2020) 154—162 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. J. Appl. Spectr., 87 (2020) 134—142], https://zhps.ejournal.by/jour/article/view/465, https://doi.org/10.1007/s10812-020-00974-8

25. Л. А. Акашев, Н. А. Попов, В. Г. Шевченко. Опт. и спектр., 129, вып. 7 (2021) 848—856 [L. A. Akashev, N. A. Popov, V. G. Shevchenko. Opt. and Spectr., 129 (2021) 881—889], http://dx.doi.org/10.21883/OS.2021.07.51075.1614-21

Источник

Информация

Автор

Акашев Л. А. Институт химии твердого тела Уральского отделения РАН
Попов Н. А. Институт химии твердого тела Уральского отделения РАН
Махнев А. А. Институт физики металлов имени М. Н. Михеева Уральского отделения РАН
Воронцова Е. С. Институт химии твердого тела Уральского отделения РАН
Шевченко В. Г. Институт химии твердого тела Уральского отделения РАН

Страницы

35-42

Год издания

2023

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии

Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al4Sm

Похожие публикации

Источник

Информация

Оптические свойства и электронные характеристики тонких поликристаллических и аморфных пленок сплава Al⁴Sm