RT - article
SR - Electronic
T1 - Микроструктура и свойства тонких пленок Y<sub>0.1</sub>Sr<sub>0.9</sub>CoO<sub>3–x</sub>, полученных при высокочастотном лазерном осаждении
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2023-02-01
DO - 10.47612/0514-7506-2023-90-1-43-47
A1 - Босак Н. А., 
A1 - Чумаков А. Н., 
A1 - Бушинский М. В., 
A1 - Чобот Г. М., 
A1 - Баран Л. В., 
A1 - Шевченок А. А., 
A1 - Малютина-Бронская В. В., 
A1 - Иванов А. А., 
YR - 2023
UL - https://www.academjournals.by/publication/15260
AB - Методом высокочастотного импульсно-периодического (f ~ 8—10 кГц) лазерного воздействия с длиной волны 1.064 мкм и плотностью мощности q = 36 МВт/см2 на керамику Y0.1Sr0.9CoO3–x при давлении в вакуумной камере p = 2 × 10−2 мм рт.ст. получены наноструктурированные тонкие пленки на кремниевой подложке, морфология которых изучена с помощью атомно-силовой микроскопии. Выявлены особенности спектров пропускания в видимой, ближней и средней ИК-областях. Проведен анализ электрофизических свойств структуры Y0.1Sr0.9CoO3–x.