Somakumar А. K. Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге. Журнал прикладной спектроскопии. 2023;90(5):803.
1. O. Stenzel, A. Macleod, Adv. Opt. Technol., 1, 463–481 (2012).
2. H. Liu, J. Peng, W. Liu, Y. Wang, J. Wu, G. Zhang, X. Wang, Y. Yan, NPG Asia Mater., 10, 309–317 (2018).
3. N. A. Tran, H. N. Tran, M. C. Dang, E. Fribourg-Blanc, Adv. Nat. Sci. Nanosci. Nanotechnol., 1 (2010).
4. C. Ramade, S. Silvestre, F. Pascal-Delannoy, B. Sorli, Int. J. Radio Freq. Identif. Technol. Appl., 4, 49–66 (2012).
5. V. Ramya, K. Neyvasagam, R. Chandramohan, S. Valanarasu, A. M. F. Benial, J. Mater. Sci. Mater. Electron., 26, 8489–8496 (2015).
6. H. Derin, K. Kantarli, Appl. Phys. A Mater. Sci. Process, 75, 391–395 (2002).
7. J. Figueira, J. Loureiro, J. Marques, C. Bianchi, P. Duarte, M. Ruoho, I. Tittonen, I. Ferreira, ACS Appl. Mater. Interfaces, 9, 6520–6529 (2017).
8. E. G. Turitsyna, S. Webb, Electron. Lett., 41, 40–41 (2005).
9. S. M. Abd Al Kareem, W. I. Yaseen, IOP Conf. Ser. Mater. Sci. Eng., 757 (2020).
10. I. Mack, Development of innovative Coatings for sun Protection Glasses Based on the Theory of the Optimal Spectral Transmittance, PhD diss., University of Basel (2008).
11. B. Wang, P. W. Leu, Nano Energy, 13, 226–232 (2015).
12. V. F. Drobny, L. Pulfrey, Thin Solid Films, 61, 89–98 (1979).
13. J. N. Hilfiker, N. Singh, T. Tiwald, D. Convey, S. M. Smith, J. H. Baker, H. G. Tompkins, Thin Solid Films, 516, 7979–7989 (2008).
14. C. K. Carniglia, J. Opt. Soc. Am. A, 7, 848 (1990).
15. G. Papadimitropoulos, N. Vourdas, V. E. Vamvakas, D. Davazoglou, Thin Solid Films, 515, 2428–2432 (2006).
16. S. Schöche, N. Hong, M. Khorasaninejad, A. Ambrosio, E. Orabona, P. Maddalena, F. Capasso, Appl. Surf. Sci., 421, 778–782 (2017).
17. D. V. Likhachev, Thin Solid Films, 669, 174–180 (2019).
18. G. Papadimitropoulos, N. Vourdas, V. E. Vamvakas, D. Davazoglou, J. Phys. Conf. Ser., 10, 182–185 (2005).
19. Y. Z. Hu, R. Sharangpani, S.-P. Tay, J. Vac. Sci. Technol. A Vacuum, Surfaces, Film., 18, 2527 (2000).
20. J. B. Gong, W. Le Dong, R. C. Dai, Z. P. Wang, Z. M. Zhang, Z. J. Ding, Chin. Phys. B, 23 (2014).
21. F. A. Akgul, G. Akgul, N. Yildirim, H. E. Unalan, R. Turan, Mater. Chem. Phys., 147, 987–995 (2014).
22. R. Chauhan, A. K. Srivastava, M. Mishra, K. K. Srivastava, Integr. Ferroelectr., 119, 22–32 (2010).
23. N. Serin, T. Serin, Ş. Horzum, Y. Çelik, Semicond. Sci. Technol., 20, 398–401 (2005).
