@article{Somakumar А. K.2023-11-25,
author = { Somakumar А. K.},
title = {Эллипсометрический подход в изучении изменений показателя преломления и коэффициента экстинкции тонкой однослойной пленки меди при термическом отжиге},
year = {2023},
publisher = {NP «NEICON»},
abstract = {Исследованы оптические характеристики тонкой поглощающей однослойной пленки меди при различных температурах отжига. Спектроскопическая эллипсометрия применена в качестве эффективного инструмента для точной настройки оптических констант тонких пленок, особенно для достижения конкретных значений показателя преломления (n) и коэффициента экстинкции (k). Измерение и анализ термически осажденной на стеклянную подложку тонкой однослойной пленки меди проведены для спектроскопического эллипсометра.},
URL = {https://www.academjournals.by/publication/15415},
eprint = {https://www.academjournals.by/files/15374},
journal = {Журнал прикладной спектроскопии},
}