%0 article
%A Gao Q. , 
%A Liu Sh. , 
%A Xiu J. , 
%A Li Zh. , 
%A Liu Y. , 
%A Liu H. , 
%T Анализ стекол, покрытых тонкими пленками Zn-Cr-Sn-O, методом спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением и спектроскопии пропускания
%D 2021
%J Журнал прикладной спектроскопии
%X Тонкие пленки ZnO с примесью Sn и Cr (ZCTO) наносились на поверхность стеклянной подложки методом радиочастотного магнетронного распыления. Спектроскопия лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением (ps-LIBS) применена для быстрого анализа легирующих элементов в тонкой пленке ZCTO. Спектры пропускания стекол, покрытых тонкими пленками ZCTO, осажденными при разном времени распыления, зарегистрированы с помощью спектрофотометра UV-VIS-NIR. Красный сдвиг на 45±2 нм, отмеченный на крае поглощения спектра пропускания (УФ-полоса 330–400 нм), выделялся с увеличением времени распыления. Определены ширины оптических запрещенных зон тонких пленок ZCTO, которые оказались большими, чем у тонких пленок ZnO. Установлена связь между LIBS-сигналом и оптическими свойствами образцов стекла.
%U https://www.academjournals.by/publication/15775