Ссылка для цитирования по ГОСТ

Gao Q. , Liu Sh. , Xiu J. , Li Zh. , Liu Y. , Liu H. Анализ стекол, покрытых тонкими пленками Zn-Cr-Sn-O, методом спектроскопии лазерно-индуцированной плазмы с пикосекундным возбуждением и спектроскопии пропускания // Журнал прикладной спектроскопии. 2021 Т.88, №5. С.817(1)-817(7).