КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В ВОДНЫХ РАСТВОРАХ МЕТОДОМ ЛАЗЕРНОЙ ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ В СОЧЕТАНИИ С ОБОГАЩЕНИЕМ АНАЛИТА С ПОМОЩЬЮ ФИЛЬТРОВАЛЬНОЙ БУМАГИ

Xiu J.; Gao Q.; Liu Sh.; Qin H.

КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В ВОДНЫХ РАСТВОРАХ МЕТОДОМ ЛАЗЕРНОЙ ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ В СОЧЕТАНИИ С ОБОГАЩЕНИЕМ АНАЛИТА С ПОМОЩЬЮ ФИЛЬТРОВАЛЬНОЙ БУМАГИ

Xiu J. , Gao Q. , Liu Sh. , Qin H.

2020

Осуществлен чувствительный количественный анализ микроэлементов тяжелых металлов (Cd, Mn, Cr и Cu) в водных растворах с помощью спектроскопии индуцированного лазерным излучением пробоя, дополненной использованием фильтровальной бумаги. Водный раствор объемом 0.4 мл пропускали через фильтровальную бумагу для образования на поверхности металлической мишени гомогенного слоя (образца). Показана высокая эффективность предлагаемого метода с учетом пределов обнаружения (Cd 0.165, Mn 0.035, Cr 0.012 и Cu 0.078 мг/л), что ниже или сравнимо с аналогичными методами. Результаты лазерно-индуцированной спектроскопии достаточно хорошо согласуются с результатами ICP-MS для реальных образцов. Предлагаемый метод подходит для быстрого и точного обнаружения следов металлов в образцах водных растворов и может применяться как возможный подход к контролю качества сточных вод.

Xiu J. , Gao Q. , Liu Sh. , Qin H. КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЛЕДОВ МЕТАЛЛОВ В ВОДНЫХ РАСТВОРАХ МЕТОДОМ ЛАЗЕРНОЙ ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОСКОПИИ В СОЧЕТАНИИ С ОБОГАЩЕНИЕМ АНАЛИТА С ПОМОЩЬЮ ФИЛЬТРОВАЛЬНОЙ БУМАГИ. Журнал прикладной спектроскопии. 2020;87(4):570-577.

Цитирование

Список литературы

1. J. R. Wachter, D. A. Cremers, Appl. Spectrosc., 41, N 6, 1042–1048 (1987).

2. Y. Ito, O. Ueki, S. Nakamura, Anal. Chim. Acta, 299, N 3, 401–405 (1995).

3. N. K. Rai, A. K. Rai, J. Hazard. Mater., 150, N 3, 835–838 (2008).

4. M. A. Gondal, T. Hussain, Talanta, 71, N 1, 73–80 (2007).

5. P. Celio, C. Juliana, M. C. S. Lucas, B. G. Fabinao, J. Braz. Chem. Soc., 18, N 3, 463–512 (2007).

6. A. De Giacomo, M. Dell’Aglio, O. De Pascale, M. Capitelli, Spectrochim. Acta B, 62, N 8, 721–738 (2007).

7. P. Fichet, P. Mauchien, J. F. Wagner, C. Moulin, Anal. Chim. Acta, 429, N 2, 269–278 (2001).

8. V. S. Burakov, N. V. Tarasenko, M. I. Nedelko, V. N. Kononov, N. N. Vasilev, S. N. Isakov, Spectrochim. Acta B, 64, N 2, 141–146 (2009).

9. F. Boué-Bigne, Spectrochim. Acta B, 63, N 10, 1122–1129 (2008).

10. J. Kaiser, M. Galiová, K. Novotný, R. Červenk, L. Reale, J. Novotný, M. Liška, O. Samek, V. Kanický, A. Hrdličk, K. Stejskal, V. Adam, R. Kizek, Spectrochim. Acta B, 64, N 1, 67–73 (2009).

11. F. Y. Yueh, R. C. Sharma, J. P. Singh, H. S. Zhang, W. A. Spencer, J. Air Waste Manage., 52, N 11, 1307–1315 (2002).

12. Z. J. Chen, H. K. Li, M. Liu, R. H. Li, Spectrochim. Acta B, 63, N 1, 64–68 (2008).

13. C. L. Wang, J. G. Liu, N. J. Zhao, H. Shi, C. P. Lu, L. T. Liu, M. J. Ma, W. Zhang, D. Chen, Y. J. Zhang, W. Q. Liu, Chin. J. Laser, 38, N 11, 1115002–1115005 (2011).

14. F. Zhao, Z. M. Chen, F. P. Zhang, R. H. Li, J. Y. Zhou, Anal. Methods, 2, N 4, 408–414 (2010).

15. D. H. Zhu, J. P. Chen, J. Lu, X. W. Ni, Anal. Methods, 4, N 3, 819–823 (2012).

16. N. E. Schmidt, S. R. Goode, Appl. Spectrosc., 56, N 3, 370–374 (2002).

17. T. Kim, M. L. Ricchia, C. T. Lin, J. Chin. Chem. Soc., 57, N 4, 829–835 (2010).

18. J. O. Cáceres1, J. Tornero López, H. H. Telle, A. González Ureńa, Spectrochim. Acta B, 56, N 6, 831–838 (2001).

19. R. L. VanderWal, T. M. Ticich, J. R. West, P. A. Householder, Jr., Appl. Spectrosc., 53, N 10, 1226–1236 (1999).

20. D. Alamelu, A. Sarkar, S. K. Aggarwal, Talanta, 77, N 1, 256–261 (2008).

21. D. H. Zhu, L. Z. Wu, B. Wang, J. P. Chen, J. Lu, X. W. Ni, Appl. Opt., 50, N 29, 5695–5699 (2011).

22. Y. Lee, S. W. Oh, S. H. Han, Appl. Spectrosc., 66, N 12, 1385–1396 (2012).

23. J. S. Xiu, S. L. Zhong, H. M. Hou, Y. Lu, R. E. Zheng, Appl. Spectrosc., 68, N 9, 1039–1045 (2014).

24. M. A. Aguirre, S. Legnaioli, F. Almod_ovar, M. Hidalgo, V. Palleschi, A. Canals, Spectrochim. Acta B, 79-80, 88–93 (2013).

25. D. Bae, S. H. Nam, S. H. Han, J. Yoo, Y. Lee, Spectrochim. Acta B, 113, 70–78 (2015).

26. M. A. Aguirre, E. J. Selva, M. Hidalgo, A. Canals, Talanta, 131, 348–353 (2015).

27. M. A. Aguirre, H. Nikolova, M. Hidalgo, A. Canals, Anal. Methods, 7, 877–883 (2015).

28. X. Y. Yang, Z. Q. Hao, C. M. Li, J. M. Li, R. X. Yi, M. Shen, K. H. Li, L. B. Guo, X. Y. Li, Y. F. Lu, X. Y. Zeng, Opt. Express, 24, 13410–13417 (2016).

29. S. Niu, L. J. Zheng, A. Q. Khan, G. Feng, H. P. Zeng, Talanta, 179, 312–317 (2018).

30. J. S. Xiu, L. L. Dong, H. Qin, Y. Y. Liu, J. Yu, Appl. Spectrosc., 70, 2016–2024 (2016).

31. J. S. Xiu, V. Motto-Ros, G. Panczer, R. E. Zheng, J. Yu, Spectrochim. Acta B, 91, N 1, 24–30 (2014).

32. J. S. Xiu, S. M. Liu, M. L. Sun, L. L. Dong, Appl. Opt., 57, 404–408 (2018).

Источник

Информация

Автор

Xiu J. Школа физики и оптоэлектроники, Шаньдунский технологический университет
Gao Q. Школа физики и оптоэлектроники, Шаньдунский технологический университет
Liu Sh. Школа физики и оптоэлектроники, Шаньдунский технологический университет
Qin H. Школа физики и оптоэлектроники, Шаньдунский технологический университет

Страницы

570-577

Год издания

2020

Ключевые слова

Коллекции

Журнал прикладной спектроскопии

Похожие публикации

Источник

Информация