RT - article
SR - Electronic
T1 - ОПРЕДЕЛЕНИЕ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ НАНОПОРИСТЫХ ПЛЕНОК ОКСИДА АЛЮМИНИЯ МЕТОДАМИ СТОКС-ПОЛЯРИМЕТРИИ И МАТРИЦЫ КОГЕРЕНТНОСТИ
JF - Журнал прикладной спектроскопии
SP - 2025-03-12
A1 - Длугунович В. А., 
A1 - Жумарь А. Ю., 
A1 - Мухуров Н. И., 
YR - 2018
UL - https://www.academjournals.by/publication/16305
AB - Методами стокс-поляриметрии и матрицы когерентности исследовано влияние амплитудной анизотропии нанопористых пленок оксида алюминия и деполяризации прошедшего излучения на разность фаз ортогонально поляризованных компонент излучения, прошедшего исследуемые пленки. Образцы освещались под углами от 0 до 60° линейно поляризованным излучением с азимутом поляризации 45° в диапазоне длин волн 400-1000 нм. Определена систематическая погрешность, вносимая в разности фаз ортогонально поляризованных компонент прошедшего излучения вследствие неучета амплитудной анизотропии материала и деполяризации излучения.