@article{Абетковская С. О.2025-03-26,
author = { Абетковская С. О.,  Чижик С. А.,  Гуанбин Ю },
title = {Полуконтактный режим атомно-силового микроскопа при малой жесткости консоли зонда},
year = {2025},
doi = {10.29235/1561-8358-2025-70-1-57-68},
publisher = {NP «NEICON»},
abstract = {Методами  математического  моделирования  исследовано  полуконтактное  взаимодействие  зонда атомно-силового микроскопа (АСМ) малой (0,1 Н/м) жесткости его консоли с образцами материалов с модулем Юнга 0,01; 0,1; 1; 10 ГПа при варьировании постоянной Гамакера образца, характеризующей его поверхностную энергию, а также амплитуды колебаний пьезоэлемента и добротности зонда. Для описания контакта зонда и образца использовалась модель Джонсона–Кенделла–Робертса. Внеконтактное взаимодействие учтено с помощью потенциала Леннард–Джонса. Установлено, что при меньших значениях постоянной Гамакера, больших добротности АСМзонда и амплитуды колебаний пьезогенератора наступают условия перехода от нежелательного для получения АСМизображений смешанного режима взаимодействия зонда и образца к чисто упругому режиму. Однако для материалов с модулем Юнга 1 и 10 ГПа возникают скачкообразные изменения характеристик зонда, связанные не с влиянием поверхностной адгезии образца, а с поздним наступлением стационарного режима колебаний зонда. Во избежание неустойчивых колебаний зонда в полуконтактном режиме работы АСМ предложено использование более жестких зондов с целью получения высококачественных АСМ-изображений поверхностей материалов с модулем Юнга 1 ГПа и выше. },
URL = {https://www.academjournals.by/publication/19247},
eprint = {https://www.academjournals.by/files/19191},
journal = {Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук},
}