%0 article
%A Абетковская С. О., 
%A Чижик С. А., 
%A Гуанбин Ю , 
%T Полуконтактный режим атомно-силового микроскопа при малой жесткости консоли зонда
%D 2025
%R 10.29235/1561-8358-2025-70-1-57-68
%J Известия Национальной академии наук Беларуси. Серия физико-технических наук
%X Методами  математического  моделирования  исследовано  полуконтактное  взаимодействие  зонда атомно-силового микроскопа (АСМ) малой (0,1 Н/м) жесткости его консоли с образцами материалов с модулем Юнга 0,01; 0,1; 1; 10 ГПа при варьировании постоянной Гамакера образца, характеризующей его поверхностную энергию, а также амплитуды колебаний пьезоэлемента и добротности зонда. Для описания контакта зонда и образца использовалась модель Джонсона–Кенделла–Робертса. Внеконтактное взаимодействие учтено с помощью потенциала Леннард–Джонса. Установлено, что при меньших значениях постоянной Гамакера, больших добротности АСМзонда и амплитуды колебаний пьезогенератора наступают условия перехода от нежелательного для получения АСМизображений смешанного режима взаимодействия зонда и образца к чисто упругому режиму. Однако для материалов с модулем Юнга 1 и 10 ГПа возникают скачкообразные изменения характеристик зонда, связанные не с влиянием поверхностной адгезии образца, а с поздним наступлением стационарного режима колебаний зонда. Во избежание неустойчивых колебаний зонда в полуконтактном режиме работы АСМ предложено использование более жестких зондов с целью получения высококачественных АСМ-изображений поверхностей материалов с модулем Юнга 1 ГПа и выше. 
%U https://www.academjournals.by/publication/19247