Влияние деформаций решетки на электронную структуру монослоя дисульфида молибдена

Кривошеева А. В., Шапошников В. Л., Борисенко В. Е.
2021

Методами теоретического моделирования определены возможности и условия модификации ширины запрещенной зоны и характера межзонных переходов при воздействии сжимающих и растягивающих напряжений на кристаллическую решетку дисульфида молибдена мономолекулярной толщины. Показано, что в зависимости от направления и величины возникающей деформации решетки материал может быть как прямозонным, так и непрямозонным полупроводником, и определены условия таких трансформаций. Результаты свидетельствуют о потенциальной возможности применения монослоев дисульфида молибдена в наноэлектронных приборах нового поколения с управляемым направлением движения носителей заряда.

Кривошеева А. В., Шапошников В. Л., Борисенко В. Е. Влияние деформаций решетки на электронную структуру монослоя дисульфида молибдена. Доклады Национальной академии наук Беларуси. 2021;65(1):40-45. https://doi.org/10.29235/1561-8323-2021-65-1-40-45
Цитирование

Список литературы

Похожие публикации

Источник